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회절기 측정 - 비례 계수기, Geiger 계수기 지난 게시글에 이어 회절 기의 종류에 알아보도록 하겠다. 3. 섬광 검출기 섬광 검출기는 x선이 어떠한 물질이, 형광 스크린에서처럼 가시광으로 형광을 발산하게 하는 능력을 활용하는 회 절기이다. 이 검출기에서 발광량은 x선 강도에 비례하며, 광전관을 사용하여 측정이 가능하다. 발광량이 적기 때문에, 광전자 증배관이라 일컬어지는 특별한 종류의 광전관을 측정할 수 있는 출력 전류를 얻기 위해 사용해야 한다. x선을 검출하기 위해서는 일반적으로 사용되는 물질은 소량의 탈륨으로 활성화한 요오드화나트륨 결정이다. 이 나트륨 결정은 x선 충돌에 의해 보랏빛을 방출한다. 이 방출에 관해 상세히 설명하자면, 흡수한 x선은 약간의 원자를 이온화하여, 즉 NaI의 가전 자대에서 전도도 대로 약간 전자의 상태를 높인다. 그.. 2023. 1. 31.
회절기 측정 - 비례 계수기, Geiger 계수기 이번 글에서는 여러 가지 검출기의 작동과 성능을 고찰해보는 시간을 갖고자 한다. 1. 비례 계수기 비례 계수기는 길이 약 10cm와 직경 2cm인 원통형 금속관(음극)으로 되어 있는데, 기체로 가득 차 있다. 한 가닥의 얇은 금속 선(양극)이 금속관의 축을 따라서 지나게 된다. 이 금속 선은 관과는 절연 관계에 있고, 양극과 음극 사이에 약 200볼트의 일정한 전위차가 있다고 가정한다. 원통의 한 끝은 x선에 아주 투명한 창으로 덮여 있는 모양새이다. 원통에 들어가는 x선 중에서 아주 적은 분량은 곧바로 원통을 통과하지만 흡수한다. 여기서 이 흡수는 기체의 원자에서 광전자와 Compton 되튐 전자의 방출을 수반하게 된다. 최종적인 결과로 기체의 이온화로 전자들이 발생하여 전기장의 영향을 받는 상황에서 .. 2023. 1. 26.
회절기 측정 : x선 광학, 검출기 1. x선 광학 편평한 시편을 사용하는 주된 이유는 집중 작용을 사용하기 때문이다. 집중 작용을 사용하여 약한 회절빔의 강도를 정확하게 측정할 수 있을 정도로 높이려고 하기 위함이다. 이러한 집중의 기초는 기하학의 정리라고 할 수 있다. 한 원 내부에 내접하며 똑같이 호 SF를 밑변으로 하는 모든 각은 서로 같다. 또한 원의 중심에서 같은 후에 대한 각의 반과 같다. x선이 SA 방향과 SB 방향으로 나아가서 AB 후에 위치한 분말 시편에 부딪히는 상황을 가정해보자. 그렇게 되면 점 A와 B에서 동일한 (KHL) 면에서 회절한 선은 동일한 2 θ 각으로 벗어날 것이다. 그렇지만 일탈 각 2 θ의 경우, 각각 180도 - a이고, 이러한 사실은 회절 선이 AF와 CF 선을 따라 F에 있는 한 초점에 와야 .. 2023. 1. 22.
회절기 측정 : 일반적 특징 1. 일반적 특징 회절 카메라에서는 회절빔의 강도를 사진 film 상에 생긴 흑화량으로 측정한다. 이 말인즉슨, 현미 광도계로 필름 측정하여 '흑화량' 자체를 x선 강도로 변환하는 기술이 요구된다. 회절키에서는 회절빔의 강도를 직접 전자 기술이 가미된 x선 검출기로 측정한다. x선 검출기는 여러 유형이 존재하지만 모두 입사 x선을 전류의 surge나 purse로 바꾼다. 그다음 이를 신호 처리하기 위해 전산기를 포함한 다양한 전자 부품 내로 입력한다. 전자 기기는 단위 시간당 전류 purse의 수를 계수하고 이 숫자는 검출기로 들어간 x선 빔의 강도에 직접적으로 비례한다. 기본적으로 회절 기능은 자동적인 검출기가 긴 줄의 필름을 대신한다는 것과 다르다. Hull/Debye 카메라와 유사하게 설계되었다고 .. 2023. 1. 19.

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